一种变温电致发光量子效率测试系统

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专利名称	一种变温电致发光量子效率测试系统
申请号	CN202110453470.3	申请日期	2021-04-26
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-06	公开/公告号	CN113218629A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人	爱丁堡仪器有限公司;天美仪拓实验室设备(上海)有限公司	申请人地址	英国利文斯顿卡尔特园区2栋变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱丁堡仪器有限公司,天美仪拓实验室设备(上海)有限公司	当前权利人	爱丁堡仪器有限公司,天美仪拓实验室设备(上海)有限公司
发明人	纳瑟·德克·乌尔里希;汤姆森·斯图亚特·亚历山大·詹姆斯
代理机构	北京悦和知识产权代理有限公司	代理人	司丽春

摘要

本发明涉及一种变温电致发光量子效率测试系统，系统包含积分球上部，积分球样品基座，积分球标准灯基座，以及通过光纤与积分球上部连接的光谱仪，积分球样品基座上设有控温模块，测试样品设置在控温模块的上表面。相比于其他测试方法，如光致发光，常温量子效率测试，本方案可以实现宽变温范围下的电致发光量子效率测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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