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可重构配置的FPGA和DSP紧耦合架构的测试验证系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711478194.6
  • IPC分类号:G05B23/02
  • 申请日期:
    2017-12-29
  • 申请人:
    上海航天计算机技术研究所
著录项信息
专利名称可重构配置的FPGA和DSP紧耦合架构的测试验证系统
申请号CN201711478194.6申请日期2017-12-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-06-22公开/公告号CN108196527A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05B23/02IPC分类号G;0;5;B;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人上海航天计算机技术研究所申请人地址
上海市闵行区中春路1777号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海航天计算机技术研究所当前权利人上海航天计算机技术研究所
发明人宋雷军;王永孟;薛垒;李前进;马海燕;魏冬冬
代理机构上海汉声知识产权代理有限公司代理人胡晶
摘要
本发明公开了一种可重构配置的FPGA和DSP紧耦合架构的测试验证系统,包括可视化分系统、反馈控制分系统、与反馈控制分系统建立数据连接的目标机分系统,可视化分系统通过网络与反馈控制分系统进行通讯,接收并分析反馈控制分系统的反馈信号,向反馈控制分系统发送网络信号,网络信号包括控制信号、测试信号;反馈控制分系统负责目标分系统与外界数据的通讯,用于实现可重构配置的FPGA和DSP紧耦合架构的测试验证系统中所有数据的中转、调度;目标机分系统用于快速搭建可重构配置的包含FPGA与DSP芯片架构的目标原型机。该种测试验证系统,能够实现对被测试产品软件的正常功能测试和异常故障测试,并能够实现对FPGA与DSP之间的信号监测和篡改、故障注入功能。

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