光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110603388.4
IPC分类号：G01J3/28;G01J3/02
申请日期：
2021-05-31
申请人：
北京卓立汉光分析仪器有限公司;北京卓立汉光仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置
申请号	CN202110603388.4	申请日期	2021-05-31
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-10	公开/公告号	CN113237549A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	北京卓立汉光分析仪器有限公司;北京卓立汉光仪器有限公司	申请人地址	北京市怀柔区雁栖经济开发区兴科东大街11号院7号楼南端三层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京卓立汉光分析仪器有限公司,北京卓立汉光仪器有限公司	当前权利人	北京卓立汉光分析仪器有限公司,北京卓立汉光仪器有限公司
发明人	石广立;蔡宏太;王冰
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本申请实施例提供一种光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置，所述方法包括；获取待测光谱打在探测器不同位置时的效率；构建一斜弧面，并根据所述斜弧面对所述待测光谱进行校正操作，其中，所述斜弧面的长度方向值和高度方向值的数值对应关系由所述待测光谱打在探测器不同位置时的效率确定；本申请能够快速、准确和便捷的对光谱进行校正，以使当前波长打在探测器的不同像素上时其效率保持基本一致，最终使两次摄谱完美的拼接在一起。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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