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全跳动综合检查仪

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910197779.X
  • IPC分类号:G01B7/00;G01B7/30;G01B7/28
  • 申请日期:
    2009-10-28
  • 申请人:
    上海理工大学
著录项信息
专利名称全跳动综合检查仪
申请号CN200910197779.X申请日期2009-10-28
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2010-04-21公开/公告号CN101696872A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B7/00IPC分类号G;0;1;B;7;/;0;0;;;G;0;1;B;7;/;3;0;;;G;0;1;B;7;/;2;8查看分类表>
申请人上海理工大学申请人地址
上海市杨浦区军工路516号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海理工大学当前权利人上海理工大学
发明人黄清明;徐小萍;白文华
代理机构上海申汇专利代理有限公司代理人吴宝根
摘要
本发明涉及一种全跳动综合检查仪,包括底座部件、头架部件、测量滑板机构、测量装置、轴向、径向测量位置变换机构、控制电路、计算机。底座上面左、右二端分别安装有头架部件和右顶尖装置,中间上面安装有横向移动的测量滑板机构,测量滑板机构与底座部件之间安装有测量滑板传动机构,测量滑板机构上面安装有测量装置,测量装置上面设有轴向、径向测量位置变换机构、测量装置的传感器信号输出端依次连接控制电路,计算机,步进电机驱动电路,步进电机驱动电路输出端分别连接头架驱动电机和滑板驱动电机。本发明集机械控制、数据采集、数据处理为一体。计算机控制自动化实现轴类零件的自动数据采集、处理。便于操作控制,具有较高的能效比。

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