一种耐压测试装置和方法

发明专利无效专利

申请号：
CN202010434192.2
IPC分类号：G01R31/26;G01R31/12;G01R1/04
申请日期：
2020-05-21
申请人：
上海林众电子科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种耐压测试装置和方法
申请号	CN202010434192.2	申请日期	2020-05-21
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-21	公开/公告号	CN111562480A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	上海林众电子科技有限公司	申请人地址	上海市金山区枫泾镇环东二路153号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海林众电子科技有限公司	当前权利人	上海林众电子科技有限公司
发明人	王斌;方建强
代理机构	上海微策知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	史玉婷

摘要

本发明涉及电子器件测试方法技术领域，具体涉及一种耐压测试装置和方法。一种耐压测试装置，包括测试终端、控制盒、程控电源和测试夹具；所述测试终端与控制盒通过通讯线相连；所述程控电源的控制端与测试终端通过通讯线相连；所述程控电源的输出端与控制盒的输入端通过导线相连；所述控制盒的输出端与测试夹具通过导线相连。本发明与传统二极管耐压测试方法相比，具有以下优点：1.一次性测试完成整个整流桥模块，测试效率高，漏测、错测率低；2.使用测试夹具测试，人员操作更安全；3.数据结果自动保存，分析，降低人员工作量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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