电子组件的自动化测试装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200420116384.5
IPC分类号：G01R31/00;G01R31/28
申请日期：
2004-12-08
申请人：
资重兴

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法律信息

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著录项信息

专利名称	电子组件的自动化测试装置
申请号	CN200420116384.5	申请日期	2004-12-08
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	资重兴	申请人地址	江苏省如皋市蒲行苑207栋303室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	资重兴	当前权利人	资重兴
发明人	资重兴
代理机构	北京元中知识产权代理有限责任公司	代理人	王明霞;杨建君

摘要

本实用新型涉及一种电子组件的自动化测试装置，包括一立式柜、多数测试用机板、一撷取装置及一控管主机所组成，该立式柜于上层设有多数容置格，可供置放多数测试用机板，于下层设有一整理格区，该整理格区区分设有未测格区及已测格区，于立式柜外部设有一自动化控制的撷取装置，并令立式柜中的测试用机板及撷取装置联机于一控管主机，由此组成控管主机可自动控制撷取装置执行电子组件植入及取出于该测试用机板，并能将电子组件区分置放于整理格区中的自动化测试装置。

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