一种存储器固件检修方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202211225311.9
IPC分类号：G11C29/02;G11C29/04
申请日期：
2022-10-09
申请人：
江苏华存电子科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种存储器固件检修方法及系统
申请号	CN202211225311.9	申请日期	2022-10-09
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2022-11-04	公开/公告号	CN115295061A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/02 损坏的备用电路的检测或定位，例如，损坏的刷新计数器〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;2;;;G;1;1;C;2;9;/;0;4查看分类表>
申请人	江苏华存电子科技有限公司	申请人地址	江苏省南通市南通高新区江海智汇园C4楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江苏华存电子科技有限公司	当前权利人	江苏华存电子科技有限公司
发明人	李庭育;陈育鸣;王展南
代理机构	南通国鑫智汇知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	顾新民

摘要

本发明公开了一种存储器固件检修方法及系统，所述方法包括对待检修存储器进行数据提取，获得所述待检修存储器的设备数据信息；根据所述设备数据信息，确定第一检修参数、第二检修参数以及第三检修参数；对所述第一检修参数、所述第二检修参数以及所述第三检修参数，分别进行参数标签标记，且对标记后的参数进行数据的高级优化，生成高级检修参数；通过所述高级检修参数，对所述待检修存储器的芯片通道进行服务区扫描，获得扫描数据集合；对所述扫描数据集合进行固件数据过滤，获得目标固件数据；对所述目标固件数据进行译码数据提取，获得提取译码数据，且基于所述提取译码数据，对所述目标固件数据进行逻辑数据的镜像提取。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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