使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010248177.5
IPC分类号：G01N25/04;G01N1/32
申请日期：
2010-08-09
申请人：
中国计量科学研究院

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法
申请号	CN201010248177.5	申请日期	2010-08-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-12-15	公开/公告号	CN101915774A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/02 通过测试材料的状态或相的变化；通过测试烧结 G01N25/04 测试熔化点、凝固点、软化点	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;0;4;;;G;0;1;N;1;/;3;2查看分类表>
申请人	中国计量科学研究院	申请人地址	北京市朝阳区北三环东路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量科学研究院	当前权利人	中国计量科学研究院
发明人	王海峰;李佳;孙国华;任玲玲
代理机构	北京科兴园专利事务所	代理人	王蕴;马经文

摘要

本发明公开了一种利用差示扫描量热仪测试有机物熔点的方法，包括如下步骤：先选定两种或几种标准物质，对差示扫描量热仪进行温度校准和热阻修正；然后将待测有机物样品装入玻璃毛细管中，并将盛有样品的毛细管放入差示扫描量热仪的坩埚内进行测定；热流-温度曲线的峰温度即为样品的全熔点，其结果与毛细管熔点仪测得的结果一致。拓宽了差示扫描量热法在全熔点测量中的应用。该方法将具有快速、准确、自动化程度高的优点，并且不需要对现有仪器进行改造。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供