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一种测试低维材料不同方向应变的装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110486176.2
  • IPC分类号:G01B11/16;G01N21/63;G01N21/65
  • 申请日期:
    2021-04-30
  • 申请人:
    西安电子科技大学
著录项信息
专利名称一种测试低维材料不同方向应变的装置及方法
申请号CN202110486176.2申请日期2021-04-30
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-10公开/公告号CN113375581A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/16IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;1;6;;;G;0;1;N;2;1;/;6;3;;;G;0;1;N;2;1;/;6;5查看分类表>
申请人西安电子科技大学申请人地址
陕西省西安市雁塔区太白南路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安电子科技大学当前权利人西安电子科技大学
发明人谢涌;刘晨阳;牟云琪;白艳;王浩林;胡文帅;马晓华
代理机构西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙)代理人暂无
摘要
本发明提供的一种测试低维材料不同方向应变的装置及方法,将低维材料转移到装置的柔性衬底上,再将柔性衬底固定在支撑板上,通过测试装置中心的旋转支撑件对衬底和材料施加单轴应变,然后通过旋转衬底的角度,改变应变方向,可以实现对低维材料不同方向应变测试。同时本发明的测试装置可以和激光共聚焦显微拉曼光谱仪结合使用,可以实时对材料的拉曼和光致发光光谱进行测试。

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