双面电路板的基板检测系统、检测方法及其检测用的载具

发明专利无效专利

申请号：
CN200810301299.9
IPC分类号：G01B11/00;G01N21/898
申请日期：
2008-04-24
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	双面电路板的基板检测系统、检测方法及其检测用的载具
申请号	CN200810301299.9	申请日期	2008-04-24
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-10-28	公开/公告号	CN101566460
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;8;9;8查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	江苏省南通市通州区五接镇袁三圩变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南通滨五实业有限公司	当前权利人	南通滨五实业有限公司
发明人	万隆文;王飞
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种双面电路板的基板检测系统，包括一计算机系统、一自动光学检测仪及一载具，所述自动光学检测仪用于获得待测双面电路板的影像信息，并将其传送给计算机系统进行处理，所述载具包括一第一板及一第二板，该两板上均设置两组承载孔，其中第一组承载孔形状与所述待测双面电路板一面的形状相同，第二组承载孔形状与所述待测双面电路板另一面的形状相同，所述第一板及第二板可相互扣合。本发明还包括一种双面电路板的基板检测方法及其检测用的载具。利用所述载具可以快速将待测双面电路板翻面，从而得以节省检测时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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