一种用于全极化雷达散射截面测量的低散射校准支架

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420827863.1
IPC分类号：G01S7/40
申请日期：
2014-12-23
申请人：
北京无线电计量测试研究所

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著录项信息

专利名称	一种用于全极化雷达散射截面测量的低散射校准支架
申请号	CN201420827863.1	申请日期	2014-12-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S7/40 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S7/00 与G01S 13/00，G01S 15/00，G01S 17/00各组相关的系统的零部件 G01S7/02 与G01S 13/00组相应的系统的 G01S7/40 监测或校准装置	IPC分类号	G;0;1;S;7;/;4;0查看分类表>
申请人	北京无线电计量测试研究所	申请人地址	北京市海淀区142信箱408分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京无线电计量测试研究所	当前权利人	北京无线电计量测试研究所
发明人	李贵兰;马蔚宇;马永光;黄建领
代理机构	北京正理专利代理有限公司	代理人	张文祎

摘要

本实用新型公开一种用于全极化雷达散射截面测量系统校准用的低散射支架，包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，所述安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；所述安装平台上设有安装座，所述二面角支撑臂可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行。采用上述结构后降低了支架对二面角散射场测量的影响，提高了雷达散射截面测量系统校准的准确度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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