与双面辐射紫外老化试验箱配套使用的组件试验架

发明专利有效专利

申请号：
CN201010610126.2
IPC分类号：G01N17/00
申请日期：
2010-12-29
申请人：
常州亿晶光电科技有限公司

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著录项信息

专利名称	与双面辐射紫外老化试验箱配套使用的组件试验架
申请号	CN201010610126.2	申请日期	2010-12-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-08-10	公开/公告号	CN102147351A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N17/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N17/00 测试材料的耐气候，耐腐蚀，或耐光照性能	IPC分类号	G;0;1;N;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	常州亿晶光电科技有限公司	申请人地址	江苏省金坛市尧塘镇金武路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	常州亿晶光电科技有限公司	当前权利人	常州亿晶光电科技有限公司
发明人	王焕焕;陈鑫
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种与双面辐射紫外老化试验箱配套使用的组件试验架，包括框架、导轮、组件滑轮、上卡板、复位弹簧、螺杆和螺母，导轮安装在框架的底部，组件滑轮安装在框架的下边框上，且所有组件滑轮的中心处于同一直线上；两块电池组件的上边由上卡板、复位弹簧和螺母收紧卡限；由于本发明在框架的两侧都设置了用于安装电池组件的结构，组件滑轮的设置方便了电池组件调整，上卡板能将位于框架两侧的电池组件限定好，不会出现电池组件的翻倒现象；它不仅方便电池组件的搬进搬出，而且紫外辐射测试效率高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN2695952Y	暂无	2004-04-30	紫外加速老化试验箱失效专利	上海现代环境工程技术有限公司
2	CN201909748U	暂无	2010-12-29	与双面辐射紫外老化试验箱配套使用的组件试验架失效专利	常州亿晶光电科技有限公司
3	CN1576812A	2005-02-09	2004-07-23	校准老化装置的温度传感器的方法有效专利	阿特莱斯材料检测技术有限公司

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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