使用脉冲模式离子室检测高能辐射的方法和装置

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专利名称	使用脉冲模式离子室检测高能辐射的方法和装置
申请号	CN200510060075.X	申请日期	2005-03-31
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2005-10-05	公开/公告号	CN1677127
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/185 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕 G01T1/185 用电离室装置〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;1;8;5查看分类表>
申请人	热电集团	申请人地址	美国马萨诸塞变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	热电集团,美国得克萨斯	当前权利人	热电集团,美国得克萨斯
发明人	亚历山大·约瑟夫·埃辛;迈克尔·马斯捷罗夫
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	夏青

摘要

本发明公开了一种测量高能辐射通量的方法，包括：向离子室中的电极施加正电压，其中离子室中充满能够由高能辐射形成带电荷离子的气体；测量与正电压引起的离子电流相关的正离子电流信号；向电极施加负电压；测量与负电压引起的离子电流相关的负离子电流信号；和根据离子电流信号，确定高能辐射通量的大小。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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