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基于两点磁梯度全张量的线性定位方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110013391.0
  • IPC分类号:G01V3/38;G01V3/08
  • 申请日期:
    2021-01-06
  • 申请人:
    中国人民解放军海军工程大学
著录项信息
专利名称基于两点磁梯度全张量的线性定位方法
申请号CN202110013391.0申请日期2021-01-06
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-04-20公开/公告号CN112684511A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01V3/38IPC分类号G;0;1;V;3;/;3;8;;;G;0;1;V;3;/;0;8查看分类表>
申请人中国人民解放军海军工程大学申请人地址
湖北省武汉市硚口区解放大道717号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国人民解放军海军工程大学当前权利人中国人民解放军海军工程大学
发明人张宁;徐磊;赵鹤达
代理机构武汉汇知云专利代理事务所(普通合伙)代理人刘焓
摘要
本发明公开了一种基于两点磁梯度全张量的线性定位方法,包括如下步骤:S1,以空间中任意一点为原点建立空间直角坐标系,确定第一观测点与第二观测点的坐标,得到待观测目标点的定位公式;S2,分别测量两个观测点的磁梯度全张量;S3,将步骤S2中测得的数据代入步骤S1中,计算得到待定位目标点的定位数据。本发明提供的基于两点磁梯度全张量的线性定位方法,可以根据两点磁梯度全张量以及两点的相对位置实现对目标点的定位,期间不需要测量地磁场值,减小了地磁场噪声所产生的定位误差,并且采用线性方法完成解算,求解过程简便,可以直接得出解析解。

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