一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110161031.1
IPC分类号：G01R31/3185
申请日期：
2011-06-15
申请人：
中国科学院电子学研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法
申请号	CN201110161031.1	申请日期	2011-06-15
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-19	公开/公告号	CN102830345A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3185 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/3185 测试的重新配置，例如LSSD，划分〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;5查看分类表>
申请人	中国科学院电子学研究所	申请人地址	北京市海淀区北四环西路19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院电子学研究所	当前权利人	中国科学院电子学研究所
发明人	杨海钢;周发标;秋小强;王飞
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	周国城

摘要

本发明公开了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法，涉及可编程逻辑器件技术，用于分析评价FPGA测试配置的完备性。本发明方法结合FPGA的结构特点，首先建立FPGA的配置词典；然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率；最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性。通过本发明提出的方法，无需故障仿真就能对FPGA的测试配置进行快速的分析评价：分析测试配置所有可测和不可测的FPGA资源，评价测试配置的完备性，从而可以指导FPGA测试配置的改进，提高FPGA测试配置的开发效率。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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