一种电子元件导通测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202021959243.5
IPC分类号：G01R31/54;G01R1/04
申请日期：
2020-09-09
申请人：
东莞市贝特电子科技股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种电子元件导通测试装置
申请号	CN202021959243.5	申请日期	2020-09-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/54	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;5;4;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	东莞市贝特电子科技股份有限公司	申请人地址	广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区新竹路4号新竹苑16座办公601 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	东莞市贝特电子科技股份有限公司	当前权利人	东莞市贝特电子科技股份有限公司
发明人	高连忠;龚卫;万志勇
代理机构	天津市北洋有限责任专利代理事务所	代理人	潘俊达;郭宝煊

摘要

本实用新型属于电子元件检测技术领域，尤其涉及一种电子元件导通测试装置，包括定位块、探针组件、探针固定板、驱动组件和测试设备；定位块，用于固定电子元件；探针组件设置于所述定位块上方，用于连接所述电子元件的两端；所述探针组件安装于所述探针固定板；所述探针固定板与所述驱动组件的输出端连接；所述探针组件与所述测试设备导电连接。本实用新型既提高了测试效率，又避免漏检。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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