集成式光纤环圈测试系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201220729331.5
IPC分类号：G01M11/00
申请日期：
2012-12-21
申请人：
天津光拓科技有限公司

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著录项信息

专利名称	集成式光纤环圈测试系统
申请号	CN201220729331.5	申请日期	2012-12-21
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	天津光拓科技有限公司	申请人地址	天津市滨海新区华苑产业园区（环外）海泰发展五道16号B-4号楼2-1023室（高新区）变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津光拓科技有限公司	当前权利人	天津光拓科技有限公司
发明人	杨冬霞;李伟俊;王嘉宁
代理机构	天津滨海科纬知识产权代理有限公司	代理人	杨慧玲

摘要

本实用新型提供一种集成式光纤环圈测试系统，包括底座、骨架、外罩，所述骨架设于所述底座上，所述外罩罩于所述底座与骨架之上，所述底座、骨架、外罩围成的空间形成密闭的上下分体层叠的电路腔和光路腔，所述电路腔内设调制解调电路，所述光路腔内设光路。采用上述集成式的光纤环圈测试系统，极大地减小了外界温度、电磁等对检测的干扰，从而有效地提高了检测的稳定性以及精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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