一种基于共光路系统下的相位显微干涉成像系统及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410355040.8
IPC分类号：G01N21/84;G03H1/12
申请日期：
2014-07-24
申请人：
江苏大学

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著录项信息

专利名称	一种基于共光路系统下的相位显微干涉成像系统及方法
申请号	CN201410355040.8	申请日期	2014-07-24
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-10-22	公开/公告号	CN104111257A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/84 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;4;;;G;0;3;H;1;/;1;2查看分类表>
申请人	江苏大学	申请人地址	江苏省镇江市学府路301号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江苏大学	当前权利人	江苏大学
发明人	王亚伟;陈映洲;徐媛媛;骆鹏程;梁敏捷
代理机构	江苏纵联律师事务所	代理人	蔡栋

摘要

本发明公开了一种基于共光路系统下的相位显微干涉成像系统及方法，充分利用共轴系统的稳定性，将样品放在经过扩束准直的光束中，物光与参考光共光路，一可旋转角度的反射镜将参考光束改变方向，使物光与参考光束重迭相遇，变化反射镜角度可产生对应的同轴、离轴和轻微离轴干涉，其相位干涉图经后置显微镜显微放大后在CCD传感器上产生数字干涉图像。对此干涉图像进行相应的相位恢复和解构运算可得到相位体样品的空间结构形态。本发明在使用过程中有效地减少测量过程中产生的噪音，并且通过改变可旋转反射镜的角度，改变物光束和参考光束之间的夹角，适用于相位体的干涉相位显微成像，其中包括传统的同轴干涉、离轴干涉以及轻微离轴干涉，特别适用于生物细胞形态检测与特征识别的科学研究和临床应用领域。

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