分析二维轨迹以产生至少一非线性指标的方法及触控模组

发明专利无效专利

申请号：
CN201010207226.0
IPC分类号：G06F3/041
申请日期：
2010-06-23
申请人：
陞达科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	分析二维轨迹以产生至少一非线性指标的方法及触控模组
申请号	CN201010207226.0	申请日期	2010-06-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-12-28	公开/公告号	CN102298456A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F3/041 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F3/00 用于将所要处理的数据转变成为计算机能够处理的形式的输入装置；用于将数据从处理机传送到输出设备的输出装置，例如，接口装置〔4〕 G06F3/01 用于用户和计算机之间交互的输入装置或输入和输出组合装置（G06F 3/16优先）〔8〕 G06F3/03 将部件的位置或位移转换成为代码形式的装置〔3，8〕 G06F3/041 以转换方式为特点的数字转换器，例如，触摸屏或触摸垫，特点在于转换方法〔8〕	IPC分类号	G;0;6;F;3;/;0;4;1查看分类表>
申请人	陞达科技股份有限公司	申请人地址	中国台湾台北市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	陞达科技股份有限公司	当前权利人	陞达科技股份有限公司
发明人	林招庆;李文定;沈宗毅
代理机构	北京国昊天诚知识产权代理有限公司	代理人	许志勇

摘要

分析二维轨迹以产生至少一非线性指标的方法与使用该方法的触控模组，其中该方法包括：撷取二维轨迹；根据该二维轨迹依序产生复数个位移单元，其中每一位移单元是包含该二维轨迹于一预设时距内所移动的位移量与其位移方向；依序将每一位移单元的位移量与一参考值相比较；当该位移单元的位移量大于该参考值时，计算该位移单元的位移方向与前一序次位移单元的位移方向所形成的夹角；依序累计该夹角以获得一累计角，其中该累计角是包含一累计值以及一正负号；以及将该累计角度转换为至少一非线性指标。

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