三维形貌痕迹比对测量仪

发明专利无效专利

申请号：
CN201210116597.7
IPC分类号：G01B11/24
申请日期：
2012-04-20
申请人：
安徽国盾三维高科技有限公司

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著录项信息

专利名称	三维形貌痕迹比对测量仪
申请号	CN201210116597.7	申请日期	2012-04-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-08-01	公开/公告号	CN102620684A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	安徽国盾三维高科技有限公司	申请人地址	安徽省蚌埠市高新区黄山大道汉旭工业园变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安徽国盾三维高科技有限公司	当前权利人	安徽国盾三维高科技有限公司
发明人	严继华;路振涛;孟凡忠;梁玉清
代理机构	安徽省蚌埠博源专利商标事务所	代理人	杨晋弘

摘要

本发明涉及一种物体表面形貌重建的非接触式测量装置，特别是涉及刑侦证据如枪弹、工具痕迹鉴识的三维形貌痕迹比对测量仪，包括基座（1）、立柱（2）、云台（5）、显微摄像机（3）和显微投影仪（4）。本发明的优点是通过对观测样本进行非接触式测量，视场可变，分辨率可调，采用电动、手动相结合的多维调焦云台及多种夹具，以适用于多种检材夹持和测量姿态调整的需要，其结构合理、性能稳定、操作简便。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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