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一种表面粗糙度比较样块校准装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202020392696.8
  • IPC分类号:B24B7/16;B24B41/06;B24B47/00;B24B47/22;G01B21/30
  • 申请日期:
    2020-03-25
  • 申请人:
    衢州中等专业学校
著录项信息
专利名称一种表面粗糙度比较样块校准装置
申请号CN202020392696.8申请日期2020-03-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B24B7/16IPC分类号B;2;4;B;7;/;1;6;;;B;2;4;B;4;1;/;0;6;;;B;2;4;B;4;7;/;0;0;;;B;2;4;B;4;7;/;2;2;;;G;0;1;B;2;1;/;3;0查看分类表>
申请人衢州中等专业学校申请人地址
浙江省衢州市柯城区盈川东路588号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人衢州中等专业学校当前权利人衢州中等专业学校
发明人杨宗斌;王善讨;姜慧涛;徐星灵
代理机构浙江千克知识产权代理有限公司代理人吴斌林
摘要
本实用新型公开了一种表面粗糙度比较样块校准装置,包括底座,所述底座的内部左侧固定连接有伺服电机,所述伺服电机的输出端固定连接有圆杆,所述圆杆的外壁间隙配合有磨轮。该表面粗糙度比较样块校准装置,通过第一基座、第二基座、双头螺柱、U型架和滑轨之间的配合,使得该表面粗糙度比较样块校准装置,便于对外界表面粗糙度比较样块进行固定和打磨,进而实现对外界表面粗糙度比较样块进行校准,解决了由于外界原因表面粗糙度比较样块的表面粗糙度会发生改变,因此无法对外界工件进行有效的检验的问题,使得该表面粗糙度比较样块校准装置在对比较样块进行固定之后,便于将样块相对于磨轮移动,提高使用便利性。

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