检查发光二极管的设备及使用该设备的检查方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210086528.6
IPC分类号：G01N21/88;G01M11/02
申请日期：
2012-03-28
申请人：
三星LED株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	检查发光二极管的设备及使用该设备的检查方法
申请号	CN201210086528.6	申请日期	2012-03-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-10-10	公开/公告号	CN102721694A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	三星LED株式会社	申请人地址	韩国京畿道水原市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	池元秀;权五锡;金秋浩
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	韩明星

摘要

本发明公开了一种发光二极管(LED)检查设备和LED检查方法。发光二极管(LED)检查设备包括：至少一个LED，包括涂覆在发射表面上的磷光体；第一照明单元，将可见光发射至LED；第二照明单元，将紫外(UV)光发射至LED；拍摄单元，通过对从LED反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据，并通过对从LED反射的UV光拍摄来产生至少一个第二图像数据；确定单元，利用所述至少一个第一图像数据和所述至少一个第二图像数据来确定LED的外观和发射特性的缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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