一种电子元器件自动测试装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200820051519.2
IPC分类号：G01R31/00;B07C5/344
申请日期：
2008-07-30
申请人：
珠海市运泰利自动化设备有限公司

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著录项信息

专利名称	一种电子元器件自动测试装置
申请号	CN200820051519.2	申请日期	2008-07-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;B;0;7;C;5;/;3;4;4查看分类表>
申请人	珠海市运泰利自动化设备有限公司	申请人地址	广东省珠海市斗门区新青科技工业园新青三路洋青路1栋珠海市运泰利自动化设备有限公司变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	珠海市运泰利自动化设备有限公司	当前权利人	珠海市运泰利自动化设备有限公司
发明人	吴启权;曹勇祥
代理机构	广州市红荔专利代理有限公司	代理人	李彦孚

摘要

本实用新型公开了一种自动化程度高、效率高、结构紧凑的电子元器件自动测试装置。本实用新型包括上料位(15)、下料位(21)、测试位、坏品处理位(17)、待测品盘(11)、转盘体(31)，所述上料位(15)将待测品盘(11)中的待测品转移到转盘体(31)的测试夹具(13)上，测试转盘作圆周运动，当测试夹具(13)上的产品转到测试位的对应位置，接受测试位的测试，再转到坏品处理位(17)的对应位置，如测试出该产品为坏品，则由坏品处理位(17)将其转移到坏品回收盒(22)，经过测试的合格产品转至下料位(21)的对应位置，由下料位(21)将其提取。本实用新型可广泛应用于电子元器件测试领域。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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