Y波导的半波电压测试方法

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Y波导的半波电压测试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:CN200710173784.8
  • 申请人:上海亨通光电科技有限公司
  • 申请日:2007-12-29
  • 主分类号:G01R31/00
  • 公开(公告)日:2008-07-09
  • 公开/公告号:CN101216518
申请同类专利

摘要:本发明涉及的Y波导的半波电压测试方法,采用可编程逻辑器件芯片FPGA作为数据处理系统,其中D/A转换芯片把FPGA给出的周期数字信号转换为模拟量,经过后级放大给Y波导,对光纤干涉仪进行调制,A/D转换芯片在每个时钟到来时把探测器输出后经过放大了的模拟信号转换为数字量给FPGA,经过FPGA进行数据处理,将最后锁定的调制增益的值与Y波导的半波电压形成一个线性关系,按照该关系即可得到当前被Y波导的半波电压值,其优点是,整个系统集成度高,可实现全固态,稳定性好,温度变化时半波电压跟踪迅速、准确,瞬间实现较大的积分深度,找到精确的半波电压值,其精度达到10-3以上,能实时记录温度变化曲线与之对应,半波电压测试范围大,能够实现软启动。

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