集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法
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集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法
发明专利无效专利- 申请号：CN200710068134.7
- 申请人：浙江大学
- 申请日：2007-04-19
- 主分类号：G01J9/02
- 公开（公告）日：2007-10-03
- 公开/公告号：CN101046411
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摘要：本发明公开一种集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法，利用赛格奈克光纤干涉仪作为测量装置，通过被测集成电光相位调制器对该光纤干涉仪进行相位调制；所用相位调制信号为方波信号，调制方波周期大于两倍赛格奈克光纤干涉仪的渡越时间；先将调制方波的幅度从零值开始，按照固定电压步长线性增加，对于每个方波幅度，光纤干涉仪的输出为也为有高低电平的方波信号，由采样电路采样得到输出高低电平信号的数值，计算其电平差，当此电平差达到最大值时对应的调制方波的幅度记为Vπ/2；再将幅度调制方波的幅度固定为Vπ/2/2对光纤干涉仪进行相位调制，通过采样电路采样此时输出方波信号的高低电平大小，按照公式计算得到电光相位调制系数数值。
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