通用数字电路仿真测试系统及测试方法

专利类型:
发明专利(1)
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无效专利(1)
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申请时间

通用数字电路仿真测试系统及测试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:CN02143017.9
  • 申请人:华为技术有限公司
  • 申请日:2002-09-11
  • 主分类号:H01L21/66
  • 公开(公告)日:2004-03-17
  • 公开/公告号:CN1482661
申请同类专利

摘要:本发明公开了一种通用数字电路仿真测试系统及测试方法,该系统由用于产生测试激励数据的数据源、按总线标准将激励数据映射为时序的总线功能模块BFM及至少一个双路测试单元组成,相应测试方法是将激励数据映射的时序送入待测设计并进行与之并行的双路测试,使仿真测试的通用性增强、代码复用率和可扩展性提高。

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