调制传递函数的测量仪及测量方法
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调制传递函数的测量仪及测量方法
发明专利无效专利- 申请号：CN200610119331.2
- 申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 申请日：2006-12-08
- 主分类号：G01M11/00
- 公开（公告）日：2007-05-16
- 公开/公告号：CN1963430
申请同类专利
摘要：一种用于光学系统调制传递函数的调制传递函数的测量仪及测量方法，本测量仪由计算机及其液晶显示屏，支架，二维彩色CCD和基座组成。测量原理是利用计算机产生的随机噪声图作为检测输入，通过分析成像前后图像的功率谱密度，本发明只需一次测量就可快速检测得到光学系统的MTF曲线。该仪器通过计算机程序改变检测输入图像，不仅具有快速检测的特点，也可以方便分析影响调制传递函数的各种因素。
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