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电子元件对位偏移检测方法及其检测装置

发明专利无效专利

申请号：CN200710128657.6
申请人：友达光电股份有限公司
申请日：2007-07-09
主分类号：G01R31/00
公开（公告）日：2007-11-14
公开/公告号：CN101071149

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摘要：本发明公开了一种电子元件对位偏移检测方法及其检测装置，用以检测电子元件贴附至贴附对象时的对位偏移状态，贴附对象具有贴附区以贴附电子元件。所述检测方法包括：将第一导线连接至位于贴附区外围的导电标记；将第二导线连接至电子元件；将信号输出元件连接至第一导线及第二导线中的一条；提供电压信号给第一导线及第二导线中的另一条；以及将电子元件贴附至贴附区。当发生对位偏移时，电子元件与导电标记产生短路，将电压信号传输至信号输出元件，从而使信号输出元件发出警示信号。本发明可以简单且准确地检测出电子元件的对位偏移状态。

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