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用于分类支持的分析方法
发明专利有效专利摘要:总体上,本发明涉及一种用于分类支持的分析方法、一种用于确定用于该分析方法的分析参数Ys,Ei,Ii,σi的求出方法、一种计算机程序产品和一种用于分类支持的光学分析系统,其中基于第一和第二校准数据能够确定分析参数Ys,Ei,Ii,σi,分析参数根据判别分析的规则提供分类支持,分类支持为了分类、尤其是疾病诊断、分类建议或诊断建议基于光学特征i的、尤其器官分散体的测量值Pi允许其信息内容与阈值Ys相比较。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供