测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法
专利
专利类型：
专利有效性：
法律状态：
高级筛选：
路标网共为您找到相关结果1个
公开(公告)时间
申请时间
测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法
发明专利有效专利- 申请号：CN93121289.8
- 申请人：天津大学
- 申请日：1993-12-30
- 主分类号：暂无
- 公开（公告）日：1995-07-05
- 公开/公告号：CN1104765
委托购买
摘要：测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法。本发明属长度计量与测试技术领域，结构由三维位移测量单元组成，其导向元件为波纹管或膜片三维弹性体，其优点在于可测量大于Φ0.2mm的通孔或盲孔和狭槽任意截面尺寸和形状误差，被测小孔深径比大于30∶1，本发明测头可装在三坐标测量机上，当测头接触工件时，测杆变形并带动弹性体变形，用电容测微仪测头测出固定于三维弹性体上的金属平板竖向位移值，就可以对工件瞄准和测量，用电容测微仪示值计算可修正测杆变形误差。
著录信息权利要求说明书PDF全文法律状态引证文献
- 1
没找到想要的结果？为您推荐专业专利顾问检索
测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法 专利，更快更准确
免费
我想查:已帮助11118144位用户进行查询在售专利 早买早用
更多>
*来源于国家知识产权局数据，仅供参考，专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供
- 热门业务
- 常用工具
- 规则与服务
- 商务合作
- 关于我们
- 服务热线路标网：023-88392937
快申报：023-88392959
工作日：9:00-12:00/13:30-18:00
商标进度查询
风险动态监测预警
优质商标
北京聚集科技有限公司版权所有
Copyright @ CHATM ALL Right Reserve
免责声明：本网站部分内容由用户自行上传，如权利人发现存在误传其作品情形，请及时与本站联系删除：chatm@zbj.com
