有源超表面强辐照场性能测试装置及系统

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发明专利(1)
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有源超表面强辐照场性能测试装置及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:CN202110315712.2
  • 申请人:中国人民解放军国防科技大学
  • 申请日:2021-03-24
  • 主分类号:G01R29/08
  • 公开(公告)日:2021-07-02
  • 公开/公告号:CN113063994A
委托购买

摘要:有源超表面强辐照场性能测试装置及系统,包括标准波导、第一、二高抗阻表面以及第一、二波导同轴转换装置,第一波导同轴转换装置的SMA连接器连接衰减器输入端,衰减器的输出端连接矢量网络分析仪输入端,矢量网络分析仪输出端连接功率放大器输入端,功率放大器输出端连接第二波导同轴转换装置的SMA连接器,将待测试的有源超表面样品通过第一法兰盘夹紧,通过第一、二高阻抗表面在标准波导内部形成均匀平面波辐照场;通过功率放大器放大输入信号,在标准波导内部形成高功率的均匀的准TEM辐照场,通过矢量网络分析仪对样品进行性能测试。本发明能够同时提供均匀平面波和高功率辐照场,同时测试操作简单,成本低廉。

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