扩展的矢量场线卷积积分方法

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发明专利(1)
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扩展的矢量场线卷积积分方法

发明专利无效专利
  • 申请号:CN200610089501.7
  • 申请人:北京航空航天大学
  • 申请日:2006-06-30
  • 主分类号:G06F17/10
  • 公开(公告)日:2006-12-06
  • 公开/公告号:CN1873640
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摘要:扩展的矢量场线卷积积分LIC方法,(1)从矢量场中寻找下一个未被标记的采样点;(2)以上述找到的采样点为起点,采用基于数值计算的DDA曲线形成方法形成DDA曲线,首先从起点出发进行曲线的前向预测,然后还是从起点出发进行曲线的后向预测,最后将前向预测得到的曲线和后向预测得到的曲线合并,形成最终的DDA曲线;(3)对此轮循环形成的DDA曲线进行有色噪声序列直接赋值,计算DDA曲线上各点的LIC结果;(4)依据此轮循环形成的DDA曲线对整个矢量场进行区域标记,依据该曲线上的矢量场采样点的幅度大小确定覆盖区域,标记该曲线区域中的所有矢量场采样数据点;(5)对矢量场的LIC值进行归一化处理。本发明该方法既可以面向非结构矢量场,又可面向结构矢量场,增强了矢量幅度及矢量场结构的表现力,提高了预处理计算速度。

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