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总光通量测量装置以及总光通量测量方法

发明专利无效专利

申请号：CN201010182880.0
申请人：大*电子株式会社
申请日：2010-05-21
主分类号：暂无
公开（公告）日：2010-11-24
公开/公告号：CN101893479A

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摘要：本发明提供一种总光通量测量装置以及总光通量测量方法。在按照本实施方式的总光通量测量装置(100)中，根据在使对象物(OBJ)和积分部(10)相对移动以使对象物(OBJ)实质上全部的发光面暴露于积分部(10)的内部空间的情况下由测量部(21)测量照度的测量结果，来算出对象物(OBJ)所放射出的总光通量。即，在将对象物(OBJ)配置为从一个试样孔到另一个试样孔贯穿积分部(10)之后，测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量，接着，使积分部(10)相对于对象物(OBJ)相对移动，同样地测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量。

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