广微科技集团有限公司

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一种基于红外热像仪的测谎方法和系统

发明专利无效专利
  • 申请号:CN201510023389.6
  • 申请人:广微科技集团有限公司
  • 申请日:2015-01-16
  • 主分类号:A61B5/16
  • 公开(公告)日:2015-05-27
  • 公开/公告号:CN104644187A
申请同类专利

摘要:本发明实施例公开了一种基于红外热像仪的测谎方法和装置,该测谎方法包括用红外热像仪获得测谎对象的面部的红外图像;根据红外图像检测面部升温时间与受刺激时间之间的关联性,获得第一关联系数;根据红外图像检测瞳孔的大小变化,获得第二关联系数;根据第一和第二关联系数获得第三关联系数;根据第三关联系数确定测谎对象是否说谎。本发明的实施例的测谎系统和方法中,测谎对象的细微的面部温差变化信息在红外图像中很容易识别,从而提高了测谎的准确率;并进一步通过瞳孔定位算法准确的定位瞳孔位置,判别瞳孔的大小变化,两者结合来判定被测试者是否说谎,进一步提高了测谎的准确率和可靠性。

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非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法和装置

发明专利有效专利
  • 申请号:CN201410820351.7
  • 申请人:广微科技集团有限公司
  • 申请日:2014-12-25
  • 主分类号:G01J5/00
  • 公开(公告)日:2015-06-03
  • 公开/公告号:CN104677501A
委托购买

摘要:本发明提供一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法。所述方法包括:a、对非制冷红外焦平面阵列上的每个像元在两个目标温度下进行两次测试,得到第一和第二目标温度下每个像元的输出电压;b、分别对所述第一和第二目标温度下所有像元的输出电压求平均值。c、根据所述平均值,分别计算各像元在第一和第二目标温度下的输出电压值与该温度下所有像元的输出电压平均值的输出电压差异量;d、依次对各像元在第一和第二目标温度下得到的两个输出电压差异量进行运算,得到各像元所需的电压调节量;e、根据所述各像元的电压调节量在查找表中查询所需DAC偏移量;f、用所述的DAC偏移量对各像元的输出进行校正,完成对整个阵列非均匀性校正。

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