山东华芯半导体有限公司

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应用于闪存存储控制器中的垃圾回收系统及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN202211081421.2
  • 申请人:山东华芯半导体有限公司
  • 申请日:2022-09-06
  • 主分类号:G06F12/02
  • 公开(公告)日:2022-11-25
  • 公开/公告号:CN115391237A
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摘要:本发明公开一种应用于闪存存储控制器中的垃圾回收系统及方法,系统包括中央处理器、源目标管理器、目的目标管理器、映射管理器和错误管理。中央处理器主要控制垃圾回收的开始、停止和源目标闪存块和目的目标闪存块的管理;映射管理器主要是更新逻辑地址对应的新的物理地址及标识旧的物理地址无效;目的目标管理器根据目的的闪存块的物理地址和坏块情况生成对应数据的闪存页缓存的物理地址,提供给源目标管理器。源目标管理器根据闪存块的物理地址和对应的有效数据块的位图连续发送闪存读;错误处理器主要是恢复源目标管理器读时发生的错误。本发明解决垃圾回收与系统资源的竞争,减小对主机IO命令处理影响。

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一种NANDFlash控制器多命令混合测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN202211060962.7
  • 申请人:山东华芯半导体有限公司
  • 申请日:2022-09-01
  • 主分类号:G11C29/56
  • 公开(公告)日:2022-12-06
  • 公开/公告号:CN115440294A
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摘要:本发明公开一种NAND Flash控制器多命令混合测试方法,可任意调整各种类命令所占权重,实际运行时各命令出现的概率也与预设权重值基本相符,解决传统测试方法每次仅对单一命令类型进行测试,且参数修改不够灵活,无法模拟复杂真实的固件应用环境下多种命令之间的相互作用的问题。通过TLC/SLC可用块分组、命令挂起列表、已写满的块列表实现测试范围内存储块的动态管理机制,便于自动化脚本进行长时间测试,减少了测试人员的维护成本。数据校验为即时进行,且采用总体随机、关键位置插入特殊检测点的样本数据,兼顾了准确性和运行效率。

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一种动态规避nand的刷新读到未写页的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN202210956457.4
  • 申请人:山东华芯半导体有限公司
  • 申请日:2022-08-10
  • 主分类号:G06F12/02
  • 公开(公告)日:2022-11-18
  • 公开/公告号:CN115357521A
委托购买

摘要:本发明公开一种动态规避nand的刷新读到未写页的方法,设计页状态记录表,页状态记录表是一个动态数据集,记录每个page的状态,进行refresh读操作时,首先对页状态记录表进行检查,判断当前所选page是否已经写入,若此页已经写过,满足要求,进行refresh读操作,如果当前页未写过,则换页,寻址下一页,若将整个block的所有page页遍历完,说明在页状态数据集中没有找到合适的page,将page页设置为0,同时记录错误的block信息。本发明可以动态更新各block的每一个page状态,使用者可以根据该方法采取相应措施减少因为NAND refresh读到未写页导致出现大量读错误,从而规避first read现象,降低资源损耗。

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一种应用于视频监控领域的数据压缩SSD实现方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN202210902726.9
  • 申请人:山东华芯半导体有限公司
  • 申请日:2022-07-28
  • 主分类号:G06F3/06
  • 公开(公告)日:2022-11-08
  • 公开/公告号:CN115309331A
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摘要:本发明公开一种应用于视频监控领域的数据压缩SSD实现方法,本方法通过数据变长映射和视频压缩实现;数据变长映射包括主映射和页内映射,主映射是逻辑地址到物理地址的映射,页内映射用来辨识压缩后的数据在页内的偏移及长度,不同数据压缩后数据长度不同;视频压缩计算不同图像之间的增量信息,保留增量信息,将背景信息滤除。本发明进行数据压缩减小存储空间使用,从而增长SSD寿命,在相同容量SSD情况下使视频记录周期更长。

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一种nandflash的最优固定电压轴的筛选方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN202210898354.7
  • 申请人:山东华芯半导体有限公司
  • 申请日:2022-07-28
  • 主分类号:G11C16/04
  • 公开(公告)日:2022-11-04
  • 公开/公告号:CN115295048A
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摘要:本发明公开一种nand flash的最优固定电压轴的筛选方法,本方法对选取的各nand的block在磨损老化后进行一次擦除写入操作,保存特定时间后,将nand置于室温条件下。待稳定后,使用默认电压轴以及nand flash厂商所提供的各个电压轴对nand进行数据读取测试,通过数据读取测试获得各个PE cycle及不同保存时间条件下时使用不同的电压轴对进行数据读取的错误数量;在不同条件下对各个位置进行数据读取测试从而获取各电压轴出错数量和相应的出错位置;对不同条件下获取的数据进行最优的固定电压轴列表筛选。本发明可以提供不同条件下的固定最优电压轴、减少了处理的数据量、提高了计算速度。

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