基于FPGA的半导体管特性实时测量控制器
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基于FPGA的半导体管特性实时测量控制器
发明专利无效专利- 申请号：CN201010018207.3
- 申请人：江苏大学
- 申请日：2010-01-19
- 主分类号：G01R31/26
- 公开（公告）日：2010-07-28
- 公开/公告号：CN101788640A
申请同类专利
摘要：基于FPGA的半导体管特性实时测量控制器，包括：微处理器接口模块、测量电路接口模块、测量过程控制模块、测量参数寄存器组模块、测量激励发生模块、波形切割模块和测量结果缓存模块；FPGA测量控制器通过微处理器接口模块与微处理器端总线连接；FPGA测量控制器通过测量电路接口模块与外部测量电路端总线连接。测量参数寄存器组模块用于存储测量控制器测量参数以及表示当前测量状态；测量激励发生模块产生测量电路要求测量控制器输出的与测量过程步调一致的数字激励信号；波形切割模块用于测量定时时序控制；测量结果缓存模块保存测量电路的测量结果；测量过程控制模块协调各模块以及测量电路的工作，控制整个测量过程的有序进行。
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