基于半径差或者半径和的空间位置测量方法及装置

专利类型:
发明专利(1)
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基于半径差或者半径和的空间位置测量方法及装置

发明专利无效专利
  • 申请号:CN02116301.4
  • 申请人:张千山
  • 申请日:2002-03-22
  • 主分类号:暂无
  • 公开(公告)日:2003-10-08
  • 公开/公告号:CN1447129
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摘要:本发明涉及了一种基于半径差或者半径和的空间位置测量方法及装置,其特征在于:将曲线、曲面交汇点标定空间位置的过程转变成数学模型与计算公式,所述线与面有双曲线、椭圆线以及它们的旋转体,另外还有直线,此过程依据信号传送线路之几何关系,所要计算的未知数不含收发系统的时钟差,计算结果会出现双解、盲线现象,做近似计算的逼近速度快、收敛性好,半径差与半径和共用同样的计算公式,被测量目标与基站之间信号传送方向可逆。这一切带来的积极变化首先要影响到GPS全球卫星定位系统的信息处理过程,再则是应用范围扩大,有关设备大大简化,造价大大降低。

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