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型面光学测量系统综合标定方法

发明专利无效专利

申请号：CN200410018308.5
申请人：上海交通大学
申请日：2004-05-13
主分类号：G06T7/00
公开（公告）日：2005-01-26
公开/公告号：CN1570553

申请同类专利

摘要：型面光学测量系统综合标定方法，采用设计独特的白色底色上分布均匀黑色菱形方格阵列的标定板和相应菱形方格阵列的投影仪标定光栅，通过激光定位校正标定板的位置，使投影仪投影的菱形方格落在标定板的白色间隙内，由摄像机记录投影仪关闭前、后的标定板图像作为标定图像，对标定图像进行处理获得摄像机标定的基础数据，采用两步标定法实现摄像机的标定，根据摄像机标定结果计算出投影仪标定点的空间坐标，与对应的投影仪图像平面标定点坐标匹配作为基础数据实现投影仪的标定，根据投影仪坐标系和摄像机坐标系之间的转换关系实现系统几何参数的标定。本发明解决了标定点的精确自动提取问题，实现摄像机和投影仪及测量系统的综合标定，具有重要的工程实用价值。

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