全反射太赫兹波测定装置

专利类型:
发明专利(1)
专利有效性:
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公开(公告)时间
申请时间

全反射太赫兹波测定装置

发明专利有效专利
  • 申请号:CN200980115688.5
  • 申请人:浜松光子学株式会社
  • 申请日:2009-04-27
  • 主分类号:G01N21/35
  • 公开(公告)日:2011-04-13
  • 公开/公告号:CN102016548A
委托购买

摘要:本发明的全反射太赫兹波测定装置(1)具备光源(11)、分支部(12)、斩波器(13)、光程差调整部(14)、偏振片(15)、分束器(17)、太赫兹波产生元件(20)、滤波器(25)、内部全反射棱镜(31)、太赫兹波检测元件(40)、1/4波长板(51)、偏振光分离元件(52)、光检测器(53a)、光检测器(53b)、差动放大器(54)以及锁定放大器(55)。内部全反射棱镜(31)为所谓的无象差棱镜,具有入射面(31a)、出射面(31b)以及反射面(31c)。内部全反射棱镜(31)的入射面(31a)上一体地设置有太赫兹波产生元件(20)和滤波器(25),内部全反射棱镜(31)的出射面(31b)上一体地设置有太赫兹波检测元件(40)。滤波器(25)使太赫兹波透过而使泵浦光遮断。由此,实现了可小型化的全反射太赫兹波测定装置。

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