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光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法

发明专利无效专利

申请号：CN200510016792.2
申请人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日：2005-05-18
主分类号：G01M11/00
公开（公告）日：2006-11-22
公开/公告号：CN1865889

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摘要：一种属于光学仪器检测技术领域的光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法：将被测光学系统置于调平台上的精密转台上，其上方架设一台平行光管，通过转动精密转台和调整调平台使平行光管与精密转台轴线相平行；精密转台上平面反射镜的上方架设自准直仪，使自准直仪与平面反射镜自准成像，记录自准直仪的方位角度；调整调平台至电十字丝的像与平行光管十字丝的像重合，读取自准直仪的方位角度；计算被测光学系统光轴与安装基面不垂直度误差。本发明可广泛应用于航天、航空光学系统光轴与其安装基面垂直度的检验。

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