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使用了荧光粒子的检测对象物质的检测方法

发明专利无效专利

申请号：CN201210363993.X
申请人：富士胶片株式会社
申请日：2012-09-26
主分类号：G01N21/64
公开（公告）日：2013-04-10
公开/公告号：CN103033492A

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摘要：本发明提供一种待测物质的测定方法，其在利用了调整由温度导致的信号变化率的校正系统的免疫荧光分析中对照区的信号值与试验区的信号值的温度依赖性差异小，其包含（1）使待测物质和荧光粒子与存在于基板上的试验区及对照区接触并使荧光粒子与待测物质反应的工序；（2）除去未反应的荧光粒子的工序；（3）测定试验区及对照区的荧光粒子的荧光的工序；（4）使用对照区的荧光信号值校正试验区的荧光信号值的工序，其中荧光粒子为结合有（i）能够与待测物质结合的1种以上的第1结合物质和（ii）能够与第2结合物质结合但不与待测物质结合的第3结合物质的结合物质标记荧光粒子，在对照区上固定有相对于第1结合物质可结合的第2结合物质。

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