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低成本宽禁带单晶薄膜的结构及制备方法
发明专利有效专利摘要:本发明是低成本宽禁带单晶薄膜的结构及制备方法,其结构是单晶硅衬底上是氮化铝缓冲层;在氮化铝缓冲层上是碳化硅单晶缓冲层;在碳化硅缓冲层上是宽禁带单晶薄膜;其制备工艺:在单晶硅衬底上制备氮化铝缓冲层;降至室温取出;在氮化铝缓冲层上制备碳化硅缓冲层;降至室温取出;在碳化硅缓冲层上制备等宽禁带单晶薄膜;降至室温取出。优点:提高薄膜晶体质量,改善了表面形貌,兼具较好的晶格匹配,较高的导热性,应力释放,阻挡Si扩散等优点。借助单晶Si衬底实现尺寸放大、成本降低等新特点,为低成本宽禁带薄膜的研制开辟了有意义的途径。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供