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产品检测数据集的相似度计算方法及装置
发明专利有效专利摘要:本申请揭示了一种产品检测数据集的相似度计算方法及装置,该方法包括根据每个缺陷在不同特征维度上的权重,计算每个缺陷在两个数据集之间的相似度K’;根据每个缺陷的相似度K’以及每个缺陷的数量占比,计算得到两个数据集之间的相似度K1;计算各个缺陷在两个数据集中数量的两个向量之间的余弦相似度,将余弦相似度与相似度K1相乘,得到两个数据集之间的相似度K2;对相似度K2进行归一化处理,得到两个数据集之间最终的相似度K。本申请采用基于缺陷各个特征维度的权重方式计算数据集的相似度,可以快速获取两个数据集的相似度,以便使用相似度较高的数据集的历史参数配置,来设定用于训练的数据集的初始参数配置,提高了模型的训练效率。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供