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二维核磁共振弛豫时间的测量方法
发明专利有效专利摘要:本发明公开一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法,包括:向被测样品发射DEFIR脉冲序列,根据DEFIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第一幅值ADEFIR(logT1);多次向被测样品发射FIR脉冲序列,根据FIR脉冲序列的回波信号,获得纵向弛豫时间T1分布谱的第二幅值AFIR(logT1);将ADEFIR(logT1)和AFIR(logT1)带入第一公式中,得到T1分布与T1/T2分布的函数关系,根据T1分布与T1/T2分布的函数关系,推导获得T1‑T2分布。本发明的测量方法,只需要两次一维扫描就可以得到二维弛豫时间分布,在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量,避免了现有技术中测量所需时间较长,容易导致在测量流动流体时,测量还未完成时探测区域内的流体就已经流出,导致测量结果不精确的技术问题。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供