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单模光纤双折射测量方法

发明专利有效专利

申请号：CN85100420
申请人：上海交通大学光纤技术研究所
申请日：1985-04-01
主分类号：暂无
公开（公告）日：1986-08-13
公开/公告号：CN85100420

委托购买

摘要：一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤。此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态，即测出两个输出线偏振态的传播相位差２φ的绝对值，绘出ｓｉｎ2φ～ａ2ｌ2曲线（此处ｌ2为光纤中间未粘部分的长度，ａ2为其扭曲率），将曲线极值点的横坐标代入公式（Ⅰ），求出双折射值。测量是通过单色光源、偏振片、物镜、光纤固定装置、光纤扭曲装置、四分之一波长片、光检测器等进行的。

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