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一种三维测量系统工具坐标系标定方法
发明专利有效专利摘要:本发明公开了一种三维测量系统工具坐标系标定方法,该标定方法包括以下步骤步骤S1,设计测量程序并采集测量点数据;步骤S2,求解姿态矩阵参数初始值;步骤S3,辨识正交化姿态矩阵参数误差;步骤S4,判断姿态矩阵是否满足约束条件。本发明节约了测量成本,提高了标定效率;在传统姿态矩阵正交化程序的基础上,建立了新姿态矩阵参数误差辨识模型,通过循环逼近的方式辨识得到姿态矩阵参数误差,进一步提高了辨识精度。本发明解决了因测量头姿态误差导致测量系统测量精度下降的问题,同时对矩阵正交化程序带来的误差进行迭代辨识,直至得到高精度的满足旋转矩阵特性的姿态矩阵,具有标定精度高、成本低、快速等特点。
一种三维测量系统的标定和重建方法及三维测量系统
发明专利有效专利摘要:本发明公开一种三维测量系统的标定和重建方法及三维测量系统,该方法包括利用正交双方向的相位信息追踪成像装置的每个像素在测量空间中的对应的光线,构建第一损失函数以标定光线参数;将印有多个基准点的白底平面板作为投影接收平面标靶并将其在测量空间中以不同的姿态前后放置多个位置,投影机向其投射单方向相移条纹图案,成像装置采集对应的投影图像,构建第二损失函数,计算获取投影接收平面标靶的位姿参数;确定成像装置的每个像素的光线与投影接收平面标靶的交点的三维坐标及相位,拟合成像装置的像素光线的相位映射系数;建立查找表;采集投射图案后的被测物体的图像以获取相位值,根据查找表获取相位映射系数,计算被测物体的坐标。
三维测量系统、方法及GNSS系统
发明专利有效专利摘要:本发明公开了一种三维测量系统、方法及GNSS系统,所述三维测量系统包括激光雷达、GNSS系统、一惯性测量单元以及处理单元,激光雷达与GNSS系统的相对位置固定,GNSS系统用于获取GNSS天线的定位坐标;激光雷达用于扫描待测目标获取待测目标的点云数据,点云数据中每个影像点包括点云坐标;惯性测量单元获取GNSS系统以及激光雷达的姿态数据;处理单元根据GNSS天线的定位坐标、激光雷达与GNSS系统的相对位置、姿态数据以及点云数据获取点云数据每个影像点的定位坐标。本申请能够快速便捷获取待测目标的高精度、高密度三维激光点云与照片,激光点云中体现精准定位,实现建筑物三维量测与建模工作。
三维测量系统、方法、装置、介质和电子设备
发明专利有效专利摘要:本发明实施例提供了一种三维测量系统、方法、装置、介质和电子设备,所述三维测量方法包括:获取投射到被测物体表面的光线在被测物体表面上经过镜面反射形成的光线的第一图像数据;获取投射到被测物体表面的光线在被测物体表面上经过漫反射形成的光线的第二图像数据;根据所述第一图像数据和第二图像数据的三维坐标信息重构所述被测物体表面的三维图像。本发明的技术方案可以提高对存在漫反射和镜面反射的复合反射表面进行三维测量的精度。
一种三维测量系统的标定方法及测量方法
发明专利有效专利摘要:本发明公开了一种三维测量系统的标定方法及测量方法,所述标定方法包括步骤:获取一组覆盖待重建空间的标准标定数据,其中,所述标准标定数据包括三维测量系统探测器采集到的结构光特征在图像平面的二维坐标和对应的三维空间坐标;根据所述标准标定数据建立结构光‑三维映射模型。本发明的标定方法可以减少摄像机和投影仪带来的非线性效应,直接建立点对点映射,直接建立二维图像坐标与三维空间坐标的映射模型,实现高精度、高鲁棒性的三维重建,与传统方法的全局标定相比,大大减小了摄像机和投影机镜头局部畸变噪声的影响。
一种三维测量系统的标定装置及标定方法
发明专利有效专利摘要:本发明公开了一种三维测量系统的标定装置及标定方法,所述标定装置包括:电动平移台以及标定靶面板,所述电动平移台包括驱动其在第一方向上平移的第一驱动组件,所述标定靶面板垂直于所述第一方向设置于所述电动平移台上,所述标定靶面板具有朝向三维测量系统的图案显示面,所述图案显示面用于显示标定图案。本发明可以更加高精度和稳定地获取空间三维坐标。更加适应于多种场景三维测量系统的应用,能够辅助实现更高精度更稳定更加自动化地标定,更加快速高效便捷。
一种三维测量系统的图像采集装置
实用新型有效专利摘要:本实用新型涉及一种三维测量系统的图像采集装置。该三维测量系统的图像采集装置,包括双目测量外壳,所述双目测量外壳的一侧外表面设置有两组红外相机,所述双目测量外壳的上端外表面设置有防护机构,所述防护机构包括防护外壳,所述防护外壳的内部设置有风管,所述防护外壳的一侧连接有出风外壳,所述防护外壳的另一侧连接有抽风机构,所述风管的进风端与所述抽风机构的出风口连通,所述出风外壳的下端面开设有风口,所述风管的出风端与风口连通;该三维测量系统的图像采集装置,结构简单,操作方便,使用灵活,可以有效的防护红外相机的镜头,提高装置的使用寿命,便于推广使用。
一种三维测量系统、方法及计算机设备
发明专利有效专利摘要:本发明公开了一种三维测量系统,包括:投影模组,用于向目标物体投射图像,所述图像包括至少三帧相移条纹图像和一帧散斑图像;采集模组,用于采集相移条纹图像和散斑图像;控制与处理器,用于根据所述相移条纹图像计算各像素点的相对相位,并对散斑图像与预先存储的参考图像进行匹配以获取像素点的第一深度值,根据第一深度值对像素点的相对相位进行解相确定像素点的绝对相位,基于所述绝对相位以确定像素点的第二深度值。本发明通过投射至少三帧相移条纹图像和一帧散斑图像,根据散斑图像获取第一深度值,并利用第一深度值对相移条纹图像的相对相位进行解相以获取更加精确的绝对相位,根据绝对相位计算得到精确的深度值,从而提高测量精度。
光学三维测量系统
实用新型有效专利摘要:本实用新型公开了光学三维测量系统,专门用于高速在线自动检测半导体晶片和晶片封装连线的检查,本系统三维测量系统仅仅需要采集一幅图,就可以得到整个物体表面的三维形貌,因而,测量速度极快,特别适合于在线高速三维检测。该测量系统也适用于检测其他各种物体精密零件的三维表面形貌,特别是其他三维测量系统所不能检测的不连续表面。
光学三维测量系统
发明专利有效专利摘要:本发明公开了光学三维测量系统,专门用于高速在线自动检测半导体晶片和晶片封装连线的检查,本系统三维测量系统仅仅需要采集一幅图,就可以得到整个物体表面的三维形貌,因而,测量速度极快,特别适合于在线高速三维检测。该测量系统也适用于检测其他各种物体精密零件的三维表面形貌,特别是其他三维测量系统所不能检测的不连续表面。
三维测量系统和三维测量方法
发明专利有效专利摘要:提供了具有提高的测量准确性和测量效率的三维测量系统和三维测量方法。该三维测量系统设置有平台18、机械臂50和探针22,所述机械臂被配置为保持待测量的工件W、并且改变所述工件W的姿态,所述探针被配置为能够相对于所述平台18移动、并且对所述工件W执行三维测量。
三维测量系统及三维测量方法
发明专利有效专利摘要:三维测量系统向对象物投射图案光,从不同的视点拍摄对象物而取得第一图像和第二图像,使用第一图像,通过空间编码图案方式取得第一深度信息,基于根据第一深度信息预测的第一图像与第二图像之间的视差来设定对应点的搜索范围,使用第一图像和第二图像,进行限定在所设定的搜索范围内的立体匹配,由此取得空间分辨率比第一深度信息高的第二深度信息。图案光具有合成图案,该合成图案是将作为与1个深度值对应的区域的单位要素规则地配置而成的空间编码图案和多个随机片不规则地配置而成的随机图案合成而得到的。
三维测量系统以及三维测量方法
发明专利有效专利摘要:为了提供一种提高测量分辨率且可实现高速处理的三维测量系统以及三维测量方法,本发明的三维测量系统包括:摄像部,具有远离配置的第一摄像部及第二摄像部,拍摄对象物的互不相同的图像;第一计算部,通过使用第一摄像部及第二摄像部的至少任一者,并使用与立体相机方式不同的三维测量方式的距离信息或用于计算距离的信息,从而计算第一特征点的视差;以及第二计算部,使用第一摄像部及第二摄像部,通过立体相机方式,基于针对第二特征点的对应点的搜索结果来计算第二特征点的视差,根据第一特征点的视差及第二特征点的视差来确定对象物的三维形状,且第二计算部基于第一特征点的视差来设定搜索范围。
利用三维测量系统对待测工件进行精确定位的方法
发明专利有效专利摘要:本发明公开了一种利用三维测量系统对待测工件进行精确定位的方法,三维测量系统安装于工位内,工位内还包括用于安装固定待测工件的夹具,夹具包括多个定位销,当待测工件安装在夹具上时,定位销插入到待测工件上对应的定位孔内;在多个定位销与夹具连接处的侧面分别固定一个辅件;利用Bursa模型分别解算待测工件安装在夹具前、后的坐标系与理论坐标系的转换关系,实现了对待测工件的精确定位,避免了在装配过程中引入的误差,提高了测量精度。
三维测量系统及使用方法
发明专利有效专利摘要:本发明涉及一种三维测量系统,用于对样品进行3D测量,包括安装架、X‑Y振镜系统、激光测距仪、工业相机及反射光路系统,所述X‑Y振镜系统、所述激光测距仪、工业相机和所述反射光路系统设于所述安装架,所述X‑Y振镜系统和所述反射光路系统相邻设置,所述激光测距仪发射出的激光经由所述反射光路系统进入X‑Y振镜系统,所述X‑Y振镜系统用于调整所述激光的光路,使得所述激光依次扫描样品表面的不同位置,以测得样品表面不同位置的高度,实现3D测量;所述工业相机和所述X‑Y振镜系统相配合,获取若干样品局部照片,而后拼接得到一张完整的样品照片,实现大幅面2D测量。本发明三维测量系统能够对样品进行3D测量和大幅面2D测量,经济实用性强。
对三维测量系统的校准进行更新
发明专利有效专利摘要:提供了一种对具有多个摄像机和至少一个投影仪的三维测量系统进行校准的方法。该方法包括对每个摄像机(118、120、122、124)/投影仪(128)对执行完全校准(100),其中该完全校准生成至少两个校正矩阵集合。随后对每个摄像机(118、120、122、124/投影仪(128)对执行更新校准(200)。该更新校准对少于所有校正矩阵集合的校正矩阵集合进行改变。
三维测量系统、拍摄设备和方法、深度计算方法和设备
发明专利有效专利摘要:本发明提供了一种三维测量系统、拍摄设备和方法、深度计算方法和设备。拍摄设备包括投射装置,用于向拍摄区域投射离散光束,所述离散光束被调制以在所述拍摄区域中形成多个离散斑点,所述离散斑点能够被从其周围预定空间范围内的其它离散斑点中识别出;以及第一成像单元,用于对所述拍摄区域进行拍摄以获得所述第一二维图像;以及第二成像单元,与所述第一成像单元之间具有预定相对位置关系,用于对所述拍摄区域进行拍摄以获得所述第二二维图像。由此,可以在不受环境光以及背景的影响的情况下,准确地获得待测物体的空间深度信息。例如,即使待测物体被置于背景单一的环境或背景纹理自相似的环境也能够准确地获得待测物体的空间深度信息。
一种三维测量系统及获得真实3D纹理点云数据方法
发明专利无效专利摘要:本发明公开了一种三维测量系统及获得真实3D纹理点云数据方法,方法包括以下步骤:S1:获取激光器点亮时图像I1和激光器关闭时图像I11;S2:对I1、I11所得的锁定成像进行图像处理,获得二值化轮廓线l1(u,v);S3:获得l1(u,v)对应的无激光时的灰度曲线h(u,v)并还原获得一条物体在三维空间某一横截面的真实图;S4:重复步骤S1~S3,获得一系列有灰度信息的轮廓线;S5:获得具有灰度信息的点云数据,采用三维表面轮廓重建技术将的点云数据重构出一个具有表面纹理信息的三维数字模型。本发明将纹理映射与三维模型重建相结合,重建出具有实物真实表面纹理的三维模型,将锁定成像获得的单像素轮廓线映射到无激光照明时获得的灰度图像,提高了纹理映射精度。
一种三维测量系统及方法
发明专利无效专利摘要:本发明公开了一种三维测量系统及方法,其中的一种三维测量系统,包括:双目相机:其功能为采用二维标定靶对其进行标定,得到相机之间的空间外参数及两个相机各自的内参数,从而为三维重构提供必要的参数;光栅干涉投影装置:用以将光影投射到光栅上产生干涉条纹后投射于被测物。本发明采用了激光作为光源,通过光学光栅完成周期性干涉条纹的产生,相对于以往的方法,其拥有更高的光学细分,因此具有可达到更高的测量精度,同时也为该周期性条纹研究了相应的相位解包裹算法和无特征点的三维拼接算法,从而使得该测量系统测量精度更高,同时使用更加方便。
一种三维测量系统
实用新型无效专利摘要:本实用新型公开了一种三维测量系统,包括:双目相机:其功能为采用二维标定靶对其进行标定,得到相机之间的空间外参数及两个相机各自的内参数,从而为三维重构提供必要的参数;光栅干涉投影装置:用以将光影投射到光栅上产生干涉条纹后投射于被测物。本实用新型采用了激光作为光源,通过光学光栅完成周期性干涉条纹的产生,相对于以往的方法,其拥有更高的光学细分,因此具有可达到更高的测量精度,同时也为该周期性条纹研究了相应的相位解包裹算法和无特征点的三维拼接算法,从而使得该测量系统测量精度更高,同时使用更加方便。
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