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一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法

发明专利有效专利

申请号：CN201410535202.6
申请人：哈尔滨工程大学
申请日：2014-10-11
主分类号：G01M11/02
公开（公告）日：2015-01-14
公开/公告号：CN104280216A

委托购买

摘要：本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。

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