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一种OpenBlock测试装置、方法及系统
发明专利有效专利摘要:本发明公开一种Open Block测试装置、方法及系统,包括测试主机和至少一个测试板卡;测试板卡上设置有测试控制器、Nand Flash芯片、温控部件;所述Nand Flash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接;测试控制器与测试主机通信。通过测试主机控制测试控制器对Nand Flash芯片进行读写,写入时,对Block的部分page进行读写,使Block处于Open状态,即Open Block。间隔一定时间再进行读取,计算Block的每个page的BER,最后分析出BER随时间的变化。提供Block在不同温度Open状态下BER随时间的变化趋势及规律,为Nand Flash控制器的实现及优化提供参考。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供