一种IGBT器件的测试电路及测试方法

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发明专利(1)
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一种IGBT器件的测试电路及测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN201710756098.7
  • 申请人:全球能源互联网研究院有限公司
  • 申请日:2017-08-29
  • 主分类号:G01R31/26
  • 公开(公告)日:2018-03-06
  • 公开/公告号:CN107765160A
委托购买

摘要:本发明提供了一种IGBT器件的测试电路及测试方法,其中,测试电路包括电流源(1)、电感(2)、第一开关(3)、第一电压源(4)、待测IGBT器件(5)、第一吸收电路(6)和过电压限制装置(7),其中:电流源(1)的正极通过电感(2)连接第一开关(3)的一端,第一开关(3)另一端连接待测IGBT器件(5)的集电极;第一电压源(4)的正极连接待测IGBT器件(5)的栅极,第一电压源(4)的负极连接电流源(1)的负极;待测IGBT器件(5)的发射极连接电流源(1)的负极;第一吸收电路(6)与过电压限制装置(7)并联在待测IGBT器件(5)的集电极和发射极之间。这种IGBT器件的测试电路所需要的测试设备成本低、体积小及测试操作可靠性高。

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