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一种IGBT器件的测试电路及测试方法
发明专利有效专利摘要:本发明提供了一种IGBT器件的测试电路及测试方法,其中,测试电路包括电流源(1)、电感(2)、第一开关(3)、第一电压源(4)、待测IGBT器件(5)、第一吸收电路(6)和过电压限制装置(7),其中:电流源(1)的正极通过电感(2)连接第一开关(3)的一端,第一开关(3)另一端连接待测IGBT器件(5)的集电极;第一电压源(4)的正极连接待测IGBT器件(5)的栅极,第一电压源(4)的负极连接电流源(1)的负极;待测IGBT器件(5)的发射极连接电流源(1)的负极;第一吸收电路(6)与过电压限制装置(7)并联在待测IGBT器件(5)的集电极和发射极之间。这种IGBT器件的测试电路所需要的测试设备成本低、体积小及测试操作可靠性高。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供