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一种电光调制器线性度测试装置

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申请号：CN200810226744.X
申请人：中国航天时代电子公司
申请日：2008-11-21
主分类号：G01M11/02
公开（公告）日：2009-04-15
公开/公告号：CN101408477

委托购买

摘要：一种电光调制器线性度测试装置，当被测电光调制器为强度调制器时，光源光波送入被测电光调制器，调制信号发生器产生调制信号送入被测电光调制器、第一和第二解调电路，测试信号发生器产生测试信号送入被测电光调制器和第一解调电路，在被测电光调制器内，调制信号使两光波产生调制相位差，测试信号使两光波产生测试相位差，两光波干涉后送入探测器，经光电转换后送至第二解调电路，第一解调电路获取测试信号大小，第二解调电路获取测试相位差；当被测电光调制器为Y波导集成光学器件时，光源光波经调制用电光调制器后送至被测电光调制器，调制信号发生器调制信号送入调制用电光调制器，测试信号发生器测试信号送入被测电光调制器，其余结构不变化。

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